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Jilin Chinese Academy of Sciences - Yanshen Technology Co., Ltd.
| 中文名稱 | 飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS） |
|---|---|
| 英文名稱 | TOF-SIMS5iontof，PHINanoTOFII |
| Cas No. | |
| 化學式 | |
| 分子量 | |
| 性狀 | |
| 存儲要求 |
| 符號 | |
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| 危險品標志 | |
| 安全說明 | |
| 危險類別碼 | |
| 危險品分類 | |
| 化學穩(wěn)定性 |
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